本文导读：
纳米颗粒及Zeta电位分析仪的原理是什么?
Litesizer 500纳米颗粒及Zeta电位分析仪主要是测颗粒度大小、分布，测量范围从几十纳米到几微米。
总的来说，粒度分析仪的原理是基于对颗粒运动轨迹或散射信号的测量，以及对数据的处理和分析。通过这些原理，我们可以对颗粒的粒度进行精确的测量和分析，为材料科学研究、环境保护、化学工程等领域提供了重要的数据支持。
Zeta电位的重要意义在于它的数值与胶态分散的稳定性相关。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量。分子或分散粒子越小，Zeta电位的绝对值（正或负）越高，体系越稳定，即溶解或分散可以抵抗聚集。
Zeta电位仪是依据Stern理论所描述的溶液界面静电双电层现象所设计的电位测试仪。Zeta电位( ？ )是胶体稳定性的关键指标，Zeta电位绝对值越大（即越正或者越负），胶体越稳定，因此对胶体zeta电位的测试非常有必要。
众所周知，国内的激光粒度仪企业，全部采用的是“静态光散射理论”，此理论测试的有效下限只能达到50纳米，对于更小的颗粒则无能为力。
粒径分析仪的介绍
激光粒度分析仪，测量分析物理颗粒丰度的仪器，依据分散系统分为湿法测试仪器，干法测试仪器，干湿一体测试仪器。用激光做光源，光为波长一定的单色光后，衍射和散射的光能的空间（角度）分布就只与粒径有关。
激光粒度分析仪测是测量分析物理颗粒丰度的仪器。用激光做光源，光为波长一定的单色光后，衍射和散射的光能的空间(角度)分布就只与粒径有关。
激光粒度仪是利用激光散射原理测量颗粒物的粒径分布的一种仪器。它将激光束照射到样品中，测量样品中散射光的强度和角度，从而得到颗粒物的粒径分布。
粒度仪是用物理的方法测试固体颗粒的大小和分布的一种仪器。根据测试原理的不同分为沉降式粒度仪、沉降天平、激光粒度仪、光学颗粒计数器、电阻式颗粒计数器、颗粒图像分析仪等。
现在新推出了图像法的激光粒度仪，采用对粉末材料连续曝光拍摄获取材料的图像再采用算法对材料的颗粒尺寸统计，除了可以得到材料的粒径分布信息外，还可以获得材料的形貌信息（例如：长宽比、球星度、对称性等）。
测量粒径范围广激光粒度分析仪可进行从纳米到微米量级如此宽范围的粒度分布。约为：20nm~2000 μ m，某些情况下上限可达3500μm；由于仪器使用过程中无须更换镜头及调整光学系统，提高了系统的稳定性，简化了操作过程。
粒度分析仪的工作原理
这种仪器的原理是利用光散射现象来测量粉体样品的粒度分布。
激光粒度仪的工作原理是利用颗粒对光波的散射现象，即大颗粒产生的散射角小，小颗粒产生的散射角大。当激光束照射到待测颗粒上时，不同大小的颗粒会产生不同的折射角度和光能。
激光粒度仪是根据颗粒能使激光产生散射这一物理现象测试粒度分布的。由于激光具有很好的单色性和极强的方向性，所以一束平行的激光在没有阻碍的无限空间中将会照射到无限远的地方，并且在传播过程中很少有发散的现象。
激光粒度测定仪一般采用MIE散射原理，激光粒度分析仪内有激光器，它会发射出一束具有一定波长的激光束，该激光束在经过滤镜后成为平行的光束照射到颗粒上面，因为粒径不同，从而产生光散射现象。
散射角的大小与颗粒的粒径相关，颗粒越大，产生的散射光的θ角就越小；颗粒越小，产生的散射光的θ角就越大。这样，测量不同角度上的散射光的强度，就可以得到样品的粒度分布了。
纳米粒度仪的原理
马尔文粒度仪属于纳米粒度仪 工作原理：动态光散射法(DLS)，有时称为准弹性光散射法（QELS），是一种成熟的非侵入技术，可测量亚微细颗粒范围内的分子与颗粒的粒度及粒度分布，使用最新技术，粒度可小于1nm。
Litesizer 500纳米颗粒及Zeta电位分析仪主要是测颗粒度大小、分布，测量范围从几十纳米到几微米。
激光粒度测定仪一般采用MIE散射原理，激光粒度分析仪内有激光器，它会发射出一束具有一定波长的激光束，该激光束在经过滤镜后成为平行的光束照射到颗粒上面，因为粒径不同，从而产生光散射现象。
进一步提升了它的重复性、准确性和分辨力。丹东百特仪器有限公司是中国知名的制造商和粒度测试技术的研发基地。专业提供激光粒度仪、粒度仪、粒度分析仪、纳米激光粒度仪、干湿法激光粒度仪、图像粒度仪、粉体特性测试仪等等。
关于颗粒度分析仪原理和颗粒度分析仪在线检测的介绍到此就结束了，感谢阅读。
发表评论